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回路のブラッシュアップ [ヒューズ選定フロー/突入電流]

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ヒューズ選定フロー
ご検討中の電子機器回路に適した特性の回路保護用素子/電流ヒューズを選定します。
左図の該当ブロックを選択して下さい。
ヒューズ選定/スタート ヒューズ選定/安全規格 ヒューズ選定/定格電圧&サイズ ヒューズ選定/定格電流 ヒューズ選定/温度ディレーティング ヒューズ選定/突入電流 ヒューズ選定/異常電流 ヒューズ選定/動作確認 ヒューズ選定/選定終了



突入電流

溶断機能は電流印加に伴うジュール発熱により動作します。従って、電源のON/OFF時等に発生する突入電流の様な、瞬間的なパルス電流に関しても限界がありますので、以下の手順に従って適切なタイプの選定が必要となります。
 
[1]発生過渡電流の確認

 ご使用を検討される回路に於いて発生する過渡電流をオシロスコープ等で確認下さい。この際、以下の点に関して注意下さい。
 
(1) 電流プローブ等で直接電流測定を行わないで、電圧測定を行う場合にダミー抵抗を使用する際は、回路内のインピーダンスが変化する事により出現する電圧が異なりますので、インピ−ダンスへの影響が少ない低抵抗(0.1オーム以下)をご使用下さい。
(2) ピーク電流値に関しましては、オシロスコープの測定時間(サンプリング時間)が長いと最大値が出現しない場合があります。
 この場合、ピーク電流を示す部分はサンプリング時間を短くして局所的な測定を行って下さい。また、局所的な測定結果での評価は過渡現象全体の影響が考慮されませんので、別途電流波形全体をサンプリング時間を長くして測定下さい。
(3) 過渡現象は周囲温度、コンデンサーの充放電状態等により異なりますので、繰り返し測定を行い、電流波形が最大状態(ピーク電流、印加時間が最大)となりる条件を確認下さい。
発生過渡電流波形
(4) 回路内にサーミスタ等の温度依存性の高い部品をご使用の場合は、機器の使用温度範囲内で過渡現象が最大となる条件で測定下さい。
(5) 測定電流波形が右図の様にノコギリ状態の場合は、各ピーク電流値を結んだ波形で評価下さい。この場合、ピーク電流値が全て評価波形内で在るようにして下さい。

 
[2]ジュール積分値の算出

 [1]項で測定した電流波形のジュール積分値 I²t の値を求めます。  ジュール積分値は電流波形を、電流印加により発生する熱エネルギーに換算して評価を行う値となります。  ジュール積分値の基本的な算出方法をTable-1に示します。
 
名 称 波 形 ジュール積分値



サイクル
ジュール積分値
1/2
サイクル
ジュール積分値
三角波 ジュール積分値
方形波 ジュール積分値
台形波 ジュール積分値
変形波 1 ジュール積分値
変形波 2 ジュール積分値
充・放電波 ジュール積分値
 
[3]ジュール積分値のプロット

 以下の内容で測定電流波形のジュール積分値 I²t を求め、 I²t−t 特性グラフへプロットします。
 
 
[4]評価基準

 [3]項で過電流をプロットした結果は以下の判断基準で評価します。
 
1. Rating Current Line以下
定常的に電流が印加された場合、ヒューズエレメントのストレスになり得ません。
よって、この条件の電流印加での寿命特性に問題ありません。

2. Rating Current Line 以上 Limit of One Pulse Current Line以下
過電流がこの範囲以内の場合は、ヒューズエレメントのストレスになり得ません。
尚、Limit of One Pulse Current Line は電源ON/OFF動作の等に様に、過渡電流の間隔が数秒以上の場合に適応します。

3. Limit of One Pulse Current Line 以上
ヒューズエレメントが電流印加による過剰発熱を起こし、ストレスになり得ます。
繰り返し印加されることにより、ストレスが蓄積し溶断が発生したり、期待される溶断特性が得られなくなります。

4. Fusing Line
過電流印加により溶断が発生します。 


以上に示す通り、[1],[2]が使用可能条件で、[3],[4]は使用不可能条件となります。

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